本發明涉及人工智能領域，具體涉及一種基于人工智能的電極缺陷檢測方法及系統。該方法包括：相機從電極區域的中心點的上方沿著第一矢量移動，并獲取第一光流場；相機以第一次移動的終點為起點沿著垂直于高光增強方向的第二矢量移動，并獲取第二光流場和第三光流場；根據三個光流場從相機可達區域中獲取初步可信區域；對相機兩次移動中獲取的圖像集合進行缺陷檢測獲取相機損壞區域，根據相機損壞區域得到不可信區域；從初步可信區域中排除不可信區域得到可信區域，對相機從可信區域中獲取的電路板圖像進行缺陷檢測得到電極缺陷檢測結果，解決了現有技術中沒有考慮外部光源、相機機械陰影和相機失焦對檢測結果的影響導致電極缺陷檢測不準確的問題。